专利名称：一种基于累积损伤模型的可靠性试验加速因子计算
方法
专利类型：发明专利
发明人：米海波,栾家辉,石士进,王诏宣,韩慧超,王一婷,董雪申请号：CN202010944721.3申请日：20200910公开号：CN112131726A公开日：20201225
摘要：本发明公开了一种基于累积损伤模型的可靠性试验加速因子计算方法，通过采用疲劳累积损伤理论计算待测产品可靠性试验加速因子，能够有效解决现代高可靠军用电子产品试验验证与短研制周期之间的突出矛盾，提高了可靠性试验效率，最大程度地降低了军用电子产品全寿命周期研制费用，可用于电子产品可靠性加速试验方案设计及评价。
申请人：中国航天标准化研究所
地址：100071 北京市丰台区小屯路89号
国籍：CN
代理机构：北京理工大学专利中心
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