专利名称：一种微控制器SOC内建IO映射测试装置专利类型：实用新型专利
发明人：万上宏,叶媲舟,黎冰,涂柏生申请号：CN201620699882.X申请日：20160705公开号：CN205787883U公开日：20161207
摘要：本实用新型公开了一种微控制器SOC内建IO映射测试装置，包括外部测试逻辑模块、微控制器内核、知识产权模块IP1、知识产权模块IP2、内部测试控制模块和IO控制模块。本实用新型的有益效果是：1、本方案可以高效地对微控制器SOC内部的集成IP进行测试。在微控制器SOC出现失效的时候，也可以在测试模式下对内部集成的IP进行失效分析。2、本方案能够改善微控制器SOC的测试效率，只需要增加极少的资源来实现内建IO映射测试逻辑，几乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。
申请人：深圳市博巨兴实业发展有限公司
地址：518000 广东省深圳市南山区高新中一道2号长园新材料港D(4)栋四楼
国籍：CN
代理机构：深圳力拓知识产权代理有限公司
代理人：龚健
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