专利名称：涂层测厚仪专利类型：实用新型专利发明人：郭飞,何志军,孙友臣申请号：CN201822099940.7申请日：20181213公开号：CN209246986U公开日：20190813
摘要：本实用新型公开了一种涂层测厚仪，包括壳体，所述壳体底端开口设置为采集端，所述壳体内设有用于处理从所述采集端传输的信号的测量组件，所述壳体上套设有支撑架,所述支撑架包括外形呈矩形的连接环，所述连接环的边角处均固接有支撑脚,所述连接环同一侧的两个支撑脚通过齿轮传动同步作相近或相远的直线运动；所述连接环的内环面上设置有四个呈矩形阵列分布的滑动件,所述壳体的外表面上竖直开设有滑槽,所述滑动件与滑槽滑动配合,支撑架能够在壳体上竖直滑动。本实用新型具有能够在测量时保持仪器与试样之间处于相互垂直的状态的效果。
申请人：北京金海城工程建设监理公司
地址：101204 北京市平谷区金海角经济开发区
国籍：CN
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