专利名称：半自动X光检查机专利类型：外观专利
申请号：CN201230560867.4申请日：20121119公开号：CN302429465S公开日：20130508
专利附图：
申请人：广东正业科技股份有限公司
地址：523808 广东省东莞市松山湖科技产业园区科技九路2号广东正业科技股份有限公司
国籍：CN
代理机构：广州粤高专利商标代理有限公司
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