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两种光学薄膜反射系数计算方法的对比

2022-02-25 来源:乌哈旅游
2014年11月 南京晓庄学院学报 NOV.2014 第6期 JOURNAL OF NANJING XIAOZHUANG UNIVERSITY NO.6 两种光学薄膜反射系数计算方法的对比 张颖颖 ,宋 炜 ,徐小兵 (1.南京晓庄学院物理与电子工程学院,江苏南京211171;2.江苏省防汛防旱指挥部办公室,江苏南京210029) 摘要:该文介绍了两种光学薄膜反射系数的计算方法——等效界面法和导纳矩阵法,并比较 了两种方法在多层光学薄膜结构下的反射率和相位差计算结果.发现当计算数值有效位数为15 时,两种方法的反射率和相位差结果差异分别为l0 量级和l0 rad量级,远小于反射率和相位 差的测量分辨率,可以认为两者的结果相同.这说明两个基于相同理论基础的方法,计算结果也是 相同的,并通过实验证实了计算结果的可靠性. 关键词:物理光学;光学薄膜;反射系数;相位差 中图分类号:o484.4l 文献标识码:A 文章编号:1009—7902(2014)06—0021—04 0 引言 0 Medium 0 rtl Medium 1 光学薄膜的应用始于20世纪30年代,现今已 2 Medium 2 成为信息光学、光学工程、光电子学和其他相关领 Medium 3 rg3 . 域广泛用的光学元件【l .如眼镜和镜头上的各类 MediumN 增透膜和增反膜、激发表面等离子共振效应的含 rt,Ⅳ+l MediumN+1 贵金属光学薄膜等等.光学薄膜的反射系数,作为 其重要的光学特性,是光学薄膜设计时常常关注 图1 多层光学薄膜示意图 的对象.光学薄膜反射系数的计算主要有两种方 1.1等效界面法 法——等效界面法 刮和导纳矩阵法 J,两种方法 该方法将多层膜从底部逐步向上层等效,逐次 都是以电磁场界面的边界连续条件 为基础推导 减少光学薄膜等效层数.入射光束的总反射系数为 r(。得到的,但其计算公式在形式上却大相径庭,本文 . +l】可由下列公式迭代计算: 针对由反射系数决定的反射率和相位差,分别用 rj(1,N+1)c 两种方法进行了数值计算和对比,并对实验结果 Z=0、1、2、…、(JJv一1) =p,s (1) 进行了实验验证. 其中 1等效界面法和导纳矩阵法 r一p(1,l+1)c—:=‘;n !l o!s! O!  n+篙1+ /+lcosO z(z=—=’ 0、 1、2厶、 、…、 光学薄膜包括含有三种介质的“三明治”结构, Ⅳ) (2) 也包括具有更多层的复杂结构,如图1所示.多层光 rs(1rs(1l+1) 一n/CO SOl --n/ +lCOSO/+1(z=0学薄膜中介质0和介质Ⅳ+1为半无限大的,介质 ,l+1): 凡fc0s f+nf+1c0s z+1 一 、l、2、…、、 、‘-、 、  1一N为中间夹层,各界面均为光滑的平行平面.假 Ⅳ) (3) 设光从介质0入射,下面分别给出了等效界面法和 0z=arcsin(nOsinOo/nf)Z:1、2、3、…、N (4) 导纳矩阵法的反射系数计算公式. =2,rrdlnfcosOf/A Z=1、2、3、…、 (5) 收稿日期:2014—09—01 基金项目:江苏省高校自然科学研究项目(14KJB140008) 作者简介:张颖颖,博士,南京晓庄学院物理与电子工程学院讲师,研究方向:表面等离子体共振技术. 一21— tI 为介质Z的折射率,可以为实数,也可以为复数 (对应金属膜);d 为介质l对应膜层的厚度;00为 光束在介质0/1界面的入射角;A为人射光波长;p 和s分别对应P分量和s分量.实际计算过程中,由 下向上逐层进行计算得到r(。. +l1.则反射率R为: =l 0( +1)I =p,s (6) P光和s光的相位差 为 。 =arg(rJr ) (7) 1.2导纳矩阵法 导纳矩阵法是薄膜光学中常见的计算反射率的 方法,因为该方法中反射率的计算需要每种介质及 整个膜系的导纳,且每层膜的特性由一个2×2的特 征矩阵来表示.入射光束的总反射系数为 。: 0 : (8)( ) 其中, =Cj/B ̄, 和 由下列矩阵的乘积确定: 【 三 ] Li762sint ̄誊H c。 j L 叼 si c。 j 1川】 即介质1一Ⅳ所形成膜层的性质可用特征矩阵 I co z sin6f I l=1、2、…、ⅣJ=p,s LiT//lsin8f cos8f J 来表示,其中 =nI/cos0f (1=0、1、2、…、Ⅳ+1) (11) z=ItlCOS0f(Z=0、1、2、…、Ⅳ+1) (12) 其余各量与公式(2)~(5)中意义相同.则反射率 R为: R =I r J=p,s (13) P光和s光的相位差 仍由式(7)计算. 2计算结果对比 2.1 “三明治”结构结果对比 我们采用激发表面等离子体共振(SPR)常用的 Kretschmann结构 ,即由玻璃(折射率为1.8)、金属 (介电常数为一18+0.7i)和空气(折射率为1)组成 的“三明治”结构,利用MATLAB编程分别实现了两 一22一 种方法P光反射率的计算,数据为双精度型,有效位 数为15位.计算结果如图2所示,两种反射率曲线完 全重合,表明反射率值没有明显差异计算表明两种 反射率的差值大部分介于(一1~1)×10 之间,但 最大误差仍小于8 X10 ,远小于目前仪器水平对反 射率测量的分辨率0.001[9,10],完全可以忽略. 图2两种方法反射率曲线计算结果对比 2.2 多层光学薄膜结果对比 为了进一步验证两者计算结果没有差异,我们 又对多层光学薄膜的反射率进行了计算,采用了一 种耦合等离子体一波导共振(Coulpled Plasmon- Waveguide Resonance,CPWR)结构,如图3所示,包 括棱镜( )、金膜(It d )、波导层(It 、d )、传感层 (It 、d )和样品(It )共5种介质.参数设置如下:人 射光波长A=632.8 nm,棱镜折射率/7,。=1.779,金 膜折射率n =0.210+3.630i,金膜的厚度d 为 48 nm,波导层的折射率 =1.457,厚度为550 nm, 传感层折射率 =1.35,厚度d =50 nm,样品折射 率 =1.33.分别用两种方法计算了P光和s光的 反射率曲线和差值,数据有效位数仍为15位,结果 如图4所示.四组反射率曲线两两重合,反射率差值 仍在10 量级,可以认为多层光学薄膜结构条件下 两种方法在反射率计算上结果仍是相同的,不管是 P光还是s光.我们还计算了其它更多层的结构,结 果也是相同的,在此不再一一列举. 图3 CPWR结构示意图 图4 CPWR结构反射率曲线计算结果对比 2.3相位差计算结果对比 SPR相位型传感器利用P光和s光的相位差 来实现样品的检测 J,具有较高的灵敏度和检测 分辨率,目前应用非常广泛.在该类传感器的结构 优化中,需要利用P光和s光的反射系数计算它们 的相位差,也会用到上述两种方法.因此我们也对 比了两种方法相位差的计算结果,仍采用2.1节 所述“三明治”SPR结构,数据有效位数为15位. 相位差曲线如图5所示,两种相位差曲线完全重 合,表明相位差值没有明显差异.计算表明两相位 差最大差值小于9 X 10 rad,远小于目前仪器水 平对相位差测量的分辨率2×10一rad[9-1o 3,完全 可以忽略.由此我们认为两种方法的相位差计算 结果也没有差别. 图5 p光和s光相位差曲线计算结果对比 3分析与实验验证 对比两种方法在双精度型数据(有效位数为15 位)条件下的反射率和相位差计算结果,其差值均 远小于实际测量分辨率,因此我们可以认为两种方 法的计算结果相同.因为两种方法的理论基础是相 同的,都是基于电磁场界面的边界连续条件,所以计 算结果理应相同. 我们实验测量了“三明治”SPR结构(由棱镜、 金膜和样品组成)的相位差曲线,实验方法在前期 文章… 中已有叙述,在此不再重复.以去离子水为 样品进行了实验,实验结果如图6所示.反射率和相 位差测量结果与结构:棱镜折射率‰=1.5141、金 膜折射率n =0.345+3.660i、金膜厚度d = 51.5 nm,水折射率r/, =1.3325的理论计算结果吻 合,由此说明这两种方法计算所得的反射率和相位 差曲线也是可靠的. Incident angle I degree (a) Incident angle I edgree (b) 图6实验与理论曲线(a)反射率(b)相位差 4结论 当计算数值有效位数为l5时,基于相同理论 基础的两种方法——等效界面法和导纳矩阵法, 虽然在数学形式上相差很大,但在计算多层光学 薄膜的反射系数时结果相同.不管是对P光还是s 光,不管是反射率曲线还是相位差曲线,两种方法 的结果差都小于可测量的分辨率,因此可以认为 两者的计算结果是相同的.通过实验进一步验证 了上述结论的正确性.该研究结果对多层光学薄 膜光学特性分析及SPR传感器设计优化有重要的 指导意义. 一23— 参考文献: [1]范正修.光学薄膜及其进展[J].光学学报,2011,9. [2]王乐,吴弼卿,李晓艳等.光学薄膜对LED出光效率影响 [7]M.玻恩,E沃耳夫.光学原理[M].科学出版社,1978. [8]张江涛,顾铮先,邓传鲁等.表面等离子共振效应中传统 近似理论与薄膜光学理论[J].光子学报,2010. [9]J.Homola,S.Yee,G.Gauglitz.Surface plasmon reso— nance sensors:review[J].Sensors and Actuators B.1999, 54(1):3—15. 的研究进展[J].材料科学与工程,2011,8. [3]卢维强,王华清,肖畅等.光学薄膜及其应用[J].现代显 示,2007,3. [4]Kochergin V E,Belogl azov A A,Valeiko M V,et a1. Phase properties of a surface—plasmon resonance from the [10]T.1wata,S.Maeda.Simulation of an absorption—based surface—plasmon resonance sensor by means of ellipsometry view point of sensor applications[J].Quantum Electronics, 1998.28:444—448. [J].Applied Optics,2007,46(9):1575—1582. 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(责任编辑:王海军) The Comparison of TWO Calculated Methods for the Reflection Coeficifent of Optical Films ZHANG Ying-ying ,SONG Wei ,XU Xiao—bing (1.School of Physics and Electronic Engineering,Nanjing Xiaozhuang University,Nanjing 21 1 171,Jiangsu; (2.Office of Flood Control and Drought Relief Headquarters of Jiangsu Province,Nanjing 210029,Jiangsu) Abstract:Two methods,the equivalent interface method and the admittance matrix method,are introduced to ca1. culate the reflection coemcient of optical films.and the calculated results of the reflectivity and phase difference of the optical films with many layers are compared.It is found that when the effective digits of the calculated value is 15.the differences of the two methods’calculated reflectivity and phase difference are 10一。 order and 10一 rad or. der respectively,far less than their measured resolution.Therefore,their results can be considered as the same. The calculated reflectivity of the two methods can also be thought the same while the effective digit of the calculated value is greater than 5,whatever for p-light and s-light.This indicates that the two methods which are based on the same theory have the same calculated result.In particular,the reliability of the calculated results is confirmed by an experiment. Key words:physical optics;optic films;reflection coeficient;phase difference f一24— 

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