专利名称：一种频率偏差与相位偏差的联合测量方法及装置专利类型：发明专利发明人：张力,张途
申请号：CN201110316111.X申请日：20111018公开号：CN102387098A公开日：20120321
摘要：本发明公开了一种频率偏差与相位偏差的联合测量方法及装置。本发明在对移动通信终端进行测试过程中，不考虑多用户干扰的情况下，提供了一种基于矩阵预处理机制的频偏和相偏联合测量方法，其利用预先构造的结构矩阵，对其进行经济型的简化QR分解，并以之求采样数值曲线的回归线最小二乘解，从而得到频率偏差和相位偏差的最优解。采用本发明可实现频率偏差与相位偏差的联合测量，且与现有技术相比具有更高算法效率和更强的适用性。
申请人：上海创远仪器技术股份有限公司
地址：200233 上海市徐汇区桂箐路69号28幢4楼
国籍：CN
代理机构：北京鑫媛睿博知识产权代理有限公司
代理人：龚家骅
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