射线检测计算公式总结

eVhmin2、连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系:

IM1.5min3、连续谱射线的总强度I：

IKiZiV24、连续谱X射线的转换效率η; 5、放射性原子核的衰变公式：

KiZVNN0et6、半衰期公式：(重要公式）放射性原子核数目因衰变减少至原来数目一半时所需的

N00.693N(1)T/T12N时间 T1T/T1N22022

7：单色窄束射线的衰减规律： 33KZ8、线衰减系数μ： II0eTlnI0IT9、半值层： T12ln20.69310、半值层计算公式：穿过物体后的射线强度为入射强度一半时的穿透厚度 (重

I1n要公式） ()I02

11.影响半值层T1/2的因素: TnT12I1()I02TT121II0()2TT12T12ln20.693KZ3312、宽束多色射线的强度衰减规律：

II0(1n)eTI缺陷IT-113、主因对比度公式：

I无缺陷I1nT Ⅰ=Ⅰs+Ⅰp=Ⅰp（1+n) 散射比n= Is / Ip

D1'Gtg14、 胶片对比度公式 ： IgE1IgE1'

15、射线照相对比度公式 ：ΔD=-0.434 GμΔT /（ 1 + n ） 16、黑度D：照射光强度与穿过底片的透射光强之比的常用对数值

DlgL0LL0L10D17、射线照相几何不清晰度： Ug = df×L2／L1=df×L2／（F-L2) 18、X射线曝光量：E=it γ射线曝光量：E=At

19、平方反比定律：从一点源发出的辐射，强度I与距离F的平方成反比 I1/I2=（F2/F1）2

20、X射线照相的曝光因子：Ψ=i t/F2= i1 t1/F11= i 2t2/F22=……= i ntn/Fn2 γ射线照相的曝光因子：Ψ=A t/F2= A1 t1/F12= A 2t2/F22=……= A ntn/Fn2

19、K值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cosθ θ=cos-1(1/K) 20 、 一次透照长度L3: L3= 2L1tanθ

21、 直缝单壁单影: 底片的有效评定长度： Leff=L3+ΔL 纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：leff=ΔL+L3′+ΔL

3600180022、环缝单壁外照法 Ｎ＝ α=θ2-η

θ=cos-1 [

1(K21)TDK0] η= sin-1(

D0sin )

D02L1 K=1.1 θ=cos-1 [

0.21TD0]

1.1D0当D０＞＞T时，θ≈cos－１Ｋ－１ K=1.1 θ=24.62 L3=Ｄ０／Ｎ； Ｌ＇3＝．Ｄｉ／Ｎ ΔL≈2T·tanθ Ｌeff＝ΔL／２＋Ｌ３＋ΔL／２

α:与ＡＢ／２对应的圆心角； θ:最大失真角或横裂检出角；

η- -有效半辐射角； Ｋ- 透照厚度比；

Ｔ- 工件厚度； Ｄ０--- 容器外直径 Di－容器内直径

23、环缝单壁内照法 1）F＜R的偏心法 N=

1800α=η－θ：θ=cos-1

1-(K21)TKDi η=sin－1（

Disin ）

Di2L1 当D0＞＞T时， θ=cos-1K-1 L3=

DiD0 L3′= NN ΔL≈2T·tgθ（ΔL/2=T·tgθ） Leff=L3′+ΔL 2）F>R的偏心法透检 N=

1800 α=θ-η θ=cos-1

1-(K21)TKDi η=sin-1(

Disin )

2L1Di当D0>>T时,θ=cos-1K-1 L3′=

D0Di L3= Leff=L3＇ NN24双壁单影法100%透检环缝时的最少曝光次数N 一次透照长度L3

N=

1800 α=θ+η θ=cos-1

1(K21)TDK0 η=sin-1（

D0sin）

2FD0当Do>>T时,θ=cos-1K-1 L3=

D0 Leff=L3 N25利用曝光曲线求非钢材的曝光量 射线等效系数（φm表示）是指在一定管电压下，达到

相同射线吸收效果（或者说获得相同底片黑度）的基准材料厚度To与被检材料厚度Tm之比，即：

φm=

T0 Tm26、椭圆成像法偏心距 L0=（g＋q）L1/ L2=(F-L2)(p+q)/L2 =[焦距-(外径+焊缝余高)]×2焊缝宽度/(外径+焊缝余高)

27、距离防护：对点源来说，在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比 D1R12=D2R22