一、数电课程设计实物实验故障
现象一：集成电路芯片发热电源极性接反。
原因1：排除方法：将电路断电，检查电源极性是否接错。 原因2：芯片损坏。
排除方法：换一片相同型号的芯片。 现象二：当输入信号变化，逻辑门输出不变。 原因1：芯片电源，地线接触不良。
解决方法：用三用表直流电压档测量芯片的电源和地线检测电压是否正确。
原因2：输出信号至芯片的信号线接触不良。
解决方法：断开电路，用三用表电阻档测量信号线是否接触良好。 原因3：芯片型号错。
解决方法：重新审核芯片型号，是否用错。 原因4：芯片损坏。 解决方法：换同型号芯片。 二、实物组合逻辑故障 原因1：多个芯片发热。
解决方法：检查总电源极性是否接反。 原因2：某一个芯片发热。
解决方法：检查此芯片电源极性是否接反或芯片已损坏。
三、触发器故障
现象一：触发器逻辑功能、间断。 原因：常触发器的置0或置数端悬空。 解决方法：将触发器的置0，置1端接高电平。 现象二：当改变输入而触发器的输出始终保持不变时。 原因1：触发器置0或置1端被接至低电平。
解决方法：用三用表直流电压档测量置0或置1端，测量是否为高电平。
原因2：对触发器边沿触发特性概念不清，电路一切正常。因概念不清，操作错误。
解决方法：重新看触发器的基本原理。 原因3：电路连接错。
解决方法：对照电路图检查信号连接。
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